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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 SEU sensitivity and large spacing TMR efficiency of Kintex-7 and Virtex-7 FPGAs 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2022, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 2 作者:  Cai, Chang;  Ning, Bingxu;  Fan, Xue;  Liu, Tianqi;  Ke, Lingyun 收藏  |  浏览/下载：65/0  |  提交时间：2021/12/09 Design and verification of multiple SEU mitigated circuits on SRAM-based FPGA system 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 7 作者:  Yu, Jian;  Cai, Chang;  Ning, Bingxu;  Gao, Shuai;  Liu, Tianqi 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/01/24 Heavy ions  Irradiation  Hardened  Single event upset   Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11 作者:  Wang, Shu;  Cai, Chang;  Ning, Bingxu;  He, Ze;  Huang, Zhiqin 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2021/12/08 SerDes  SRAM-based FPGA  Single Event Upset  Single Event Functional Interrupt   SEE Sensitivity Evaluation for Commercial 16 nm SRAM-FPGA 期刊论文 ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 12, 页码: 12 作者:  Cai, Chang;  Gao, Shuai;  Zhao, Peixiong;  Yu, Jian;  Zhao, Kai 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2022/01/19 field-programmable gate arrays  embedded block memory  single event  fault tolerance  radiation effect   Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs 期刊论文 ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13 作者:  Ke, Lingyun;  Zhao, Peixiong;  Liu, Jie;  Fan, Xue;  Cai, Chang 收藏  |  浏览/下载：108/0  |  提交时间：2019/11/10 FPGA  radiation hardening  single event upsets  heavy ions  error rates   Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2015, 卷号: 62, 页码: 1341-1348 作者:  Shao, Cuiping;  Li, Huiyun;  Xu, Guoqing;  Guo, Jinlong;  Dai, Liang 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2018/05/31 Cryptographic integrated circuits  fault injection  heavy ion  microbeam  single-event transient (SET)   SEU induced dynamic current variation of SRAM-based FPGA: A case study 会议论文 Sevilla, Spain 作者:  Xing, Kefei;  Yang, Jun;  Wang, Yueke;  Hou, Mingdong;  He, Wei 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/03/27