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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 专题：湖南大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Logic operation-based Design for Testability method and parallel test algorithm for 1T1R crossbar 期刊论文 Electronics Letters, 2017, 卷号: Vol.53 No.25, 页码: 1631-1632 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Kuang, Jishun;  Elimu, Michael;  Cai, Shuo 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/31 Design for testability of high-order OTA-C filters 期刊论文 International Journal of Circuit Theory and Applications, 2016, 卷号: Vol.44 No.10, 页码: 1859-1873 作者:  Hasan, Masood-ul;  Zhu, Yanqing;  Sun, Yichuang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/31 circuit testing  oscillation-based test  OTA-C filter  high-order filter   Switching activity reduction for scan-based BIST using weighted scan input data 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2012, 卷号: Vol.9 No.10, 页码: 874-880 作者:  Wang, WZ;  Kuang, JS;  Liu, P;  Peng, X;  You, ZQ 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2020/01/05 scan-based BIST  testability  test power  weighted random testing  scan input   Achieving low capture and shift power in linear decompressor-based test compression environment 期刊论文 Microelectronics Journal, 2012, 卷号: Vol.43 No.2, 页码: 134-140 作者:  Wang, WZ;  Kuang, JS;  You, ZQ 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2020/01/05 Scan testing  Linear decompressor  Low power  Design for testability  X-filling   A scan disabling-based BAST scheme for test cost and test power reduction 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2012, 卷号: Vol.9 No.2, 页码: 111-116 作者:  You, Zhiqiang;  Wang, Weizheng;  Liu, Peng;  Kuang, Jishun;  Qin, Zheng 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2020/01/05 design for testability (DFT)  test data volume compression  test power reduction  scan chain disabling   A scan disabling-based BAST scheme for test cost reduction 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2011, 卷号: Vol.8 No.16, 页码: 1367-1373 作者:  You, ZQ;  Wang, WZ;  Dou, ZP;  Liu, P;  Kuang, JS 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/05 design for testability (DFT)  test data volume compression  test application time reduction  scan chain disabling   Capture in Turn Scan for Reduction of Test Data Volume,Test Application Time and Test Power 会议论文 第19届IEEE亚洲测试技术学术会议 ATS 2010, 上海, 2010 作者:  Zhiqiang You;  Jiedi Huang;  Michiko Inoue;  Jishun Kuang;  Hideo Fujiwara 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2020/01/05 design  for  testability  scan  chain  disabling  low  power  testing  test  generation  test  volume  reduction   A Response Compactor for Extended Compatibility Scan Tree Construction 会议论文 2009 IEEE 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ASIC, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS, 609, 2009 作者:  You, ZQ;  Huang, JD;  Inoue, M;  Kuang, JS;  Fujiwara, H 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/13 design for testability  full scan testing  scan tree  test response compaction  XOR network