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大连理工大学 [3]
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Size effect on interface reaction of Sn-xCu/Cu solder joints during multiple reflows
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2019, 卷号: 30, 页码: 4359-4369
作者:
Huang, Ru
;
Ma, Haoran
;
Shang, Shengyan
;
Kunwar, Anil
;
Wang, Yunpeng
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2019/12/02
Chip scale packages
Copper
Copper alloys
Flip chip devices
Grain boundaries
Growth rate
Size determination
Soldered joints
Substrates
Tin alloys, Electronic product
Grain boundary motions
Interface reactions
Lateral growth rates
Longitudinal growth
Packaging process
Packaging technologies
Solder composition, Soldering
Drop Failure Modes of A Wafer-Level Chip-Scale Packaging
会议论文
14th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT), Chinese Inst Elect, Dalian, PEOPLES R CHINA, 2013-08-11
作者:
Huang, Mingliang
;
Liu, Shuang
;
Zhao, Ning
;
Long, Haohui
;
Li, Jianhui
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/11
Sn-3Ag-0.5Cu solder joint
board-level drop reliability
failure mode
wafer-level chip-scale packaging (WLCSP)
intermetallic compound (IMC)
Laser-Driven Micro Transfer Placement of Prefabricated Microstructures
期刊论文
JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS, 2012, 卷号: 21, 页码: 1049-1058
作者:
Saeidpourazar, Reza
;
Li, Rui
;
Li, Yuhang
;
Sangid, Michael D.
;
Lu, Chaofeng
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/13
Chip-scale packaging
flexible electronics
microassembly
micro-manipulation
printed microelectromechanical systems
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