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质子辐照下正照式和背照式图像传感器的单粒子瞬态效应 期刊论文
物理学报, 2022, 卷号: 71, 期号: 5, 页码: 182-189
作者:  傅婧1,2,3;  蔡毓龙4;  李豫东1,2;  冯婕1,2;  文林1,2
收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2022/03/17
10MeV质子辐射效应对基于8T-CMOS星敏感器性能影响研究（英文） 期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2135-2142
作者:  冯婕1,2;  李豫东1,2;  傅婧1,2,3;  文林1,2;  郭旗1,2
收藏  |  浏览/下载：119/0  |  提交时间：2022/03/07
辐射导致CMOS图像传感器暗电流随机电报信号（英文） 期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2143-2150
作者:  刘炳凯1,2,3,4;  李豫东1,2,3;  文林1,2,3;  周东1,2,3;  郭旗1,2,3
收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2022/03/07
8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究（英文） 期刊论文
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2128-2134
作者:  傅婧1,2,3;  李豫东1,2;  冯婕1,2;  文林1,2;  郭旗1,2
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2022/01/25
0.18μm CMOS有源像素图像传感器质子辐照效应 期刊论文
红外与激光工程, 2020, 卷号: 49, 期号: 7, 页码: 183-188
作者:  蔡毓龙1,2,3;  李豫东1,3;  文林1,3;  冯婕3,1;  郭旗3,1
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/12/04
CMOS图像传感器辐射损伤导致星敏感器性能退化机理 期刊论文
红外与激光工程, 2020, 卷号: 49, 期号: 5, 页码: 101-107
作者:  冯婕;  李豫东;  文林;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2020/06/23
电离总剂量效应对4T CMOS图像传感器暗电流影响的数值仿真 期刊论文
数值计算与计算机应用, 2020, 卷号: 41, 期号: 2, 页码: 143-150
作者:  魏莹;  文林;  李豫东;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2020/09/07
CMOS图像传感器单粒子效应及加固技术研究进展 期刊论文
核技术, 2020, 卷号: 43, 期号: 1, 页码: 50-58
作者:  蔡毓龙;  李豫东;  文林;  郭旗
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2020/03/13
3MeV质子辐照下背照式CMOS图像传感器固定模式噪声的退化行为 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 50-53
作者:  张翔;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东
收藏  |  浏览/下载：166/0  |  提交时间：2019/05/09

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