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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Statistical Analysis of Retention Behavior and Lifetime Prediction of HfO(x)-based RRAM 其他 2011-01-01 Zhang, Lijie; Huang, Ru; Hsu, Yen-Ya; Chen, Frederick T.; Lee, Heng-Yuan; Chen, Yu-Sheng; Chen, Wei-Su; Gu, Pei-Yi; Liu, Wen-Hsing; Wang, Shun-Min; Tsai, Chen-Han; Tsai, Ming-Jinn; Chen, Pang-Shiu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 lifetime  data retention  breakdown  RRAM  MECHANISM  POWER   Statistical analysis of retention behavior and lifetime prediction of HfOBxB-based RRAM 其他 2011-01-01 Zhang, Lijie; Huang, Ru; Hsu, Yen-Ya; Chen, Frederick T.; Lee, Heng-Yuan; Chen, Yu-Sheng; Chen, Wei-Su; Gu, Pei-Yi; Liu, Wen-Hsing; Wang, Shun-Min; Tsai, Chen-Han; Tsai, Ming-Jinn; Chen, Pang-Shiu 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 An examination on environmental-economic relations in China with nonlinear specifications 其他 2011-01-01 Song, Tao; Zheng, Tingguo; 宋涛; 郑挺国 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/07/22 Gas emissions  Management science  Regression analysis  Sewage  Specifications  Wastewater   The statistical analysis of substrate current to soft breakdown in ultra-thin gate oxide n-MOSFETs 其他 2004-01-01 Wang, YG; Shi, K; Jia, GS; Xu, MZ; Tan, CH; Duan, XR 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 substrate current  soft breakdown  ultra-thin gate oxide  Weibull distribution  variable frequency light pumping  LAYERS   The statistical analysis of substrate current to soft breakdown in ultra-thin gate oxide n-MOSFETs 其他 2004-01-01 Wang, Yangang; Shi, Kai; Jia, Gaosheng; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua; Duan, Xiaorong 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 尺度参数不相等时多个Weibull过程的统计分析 其他 2003-01-01 刘鸿翔; 田国梁 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/11 复合的非齐次Poisson过程  可靠性增长  可修系统  极大似然估计