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其他 [70]
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2016 [11]
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Iterative Global Similarity Points : A robust coarse-to-fine integration solution for pairwise 3D point cloud registration
其他
2018-01-01
作者:
Pan, Yue
;
Yang, Bisheng
;
Liang, Fuxun
;
Dong, Zhen
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
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提交时间:2019/12/05
Iterative Global Similarity Points : A robust coarse-to-fine integration solution for pairwise 3D point cloud registration
其他
2018-01-01
作者:
Pan, Yue
;
Yang, Bisheng
;
Liang, Fuxun
;
Dong, Zhen
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2019/12/05
The 3D Terrain Interactive Technique Based on Gesture Recognition
其他
2016-01-01
Yanyan Li
;
Xiaomeng Xu
;
Jiayu Sun
;
Haimeng Zhao
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2017/12/03
points cloud
Leap Motion
gesture recognition
Open Scene Graph
points cloud
Leap Motion
gesture recognition
Open Scene Graph
Evaluation and Optimization of Thermo-Mechanical Reliability of a TSV-based 3D MEMS
其他
2016-01-01
Zeng, Qinghua
;
Guan, Yong
;
Chen, Jing
;
Meng, Wei
;
Jin, Yufeng
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
TSV
MEMS
Thermo-mechanical Reliability
Seal Ring
Optimization
INTEGRATION
Fabrication and Characterization of Fine Pitch TSV Integration with Self-aligned Backside Insulation Layer Opening
其他
2016-01-01
Guan, Yong
;
Zeng, Qinghua
;
Chen, Jing
;
Ma, Shenglin
;
Jin, Yufeng
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
TSV
3D packaging
sidewall insulation
electrical properties
CMP
THROUGH-SILICON VIAS
STACKING TECHNOLOGY
LINER
A full chip scale numerical simulation method for thermal management of 3D IC
其他
2016-01-01
Wang, Ningyu
;
Jin, Yufeng
;
Pi, Yudan
;
Wang, Wei
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2017/12/03
3D IC
Thermal management
Full chip scale numerical simulation
Finite element method
High Frequency Analysis and Characterization of TSVs for High-Speed Integrated Systems
其他
2016-01-01
Miao, Min
;
Fang, Runiu
;
Sun, Xin
;
Cui, Xiaole
;
Jin, Yufeng
收藏
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浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Through silicon via
MOS effect
Noise coupling
SILICON
Enhanced Recrystallization of Ultra-Thin a-Silicon Film by 2-D Confined Lattice Regrowth
其他
2016-01-01
Zhang, Hao
;
Li, Ming
;
Chen, Gong
;
Yang, Yuancheng
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Monolithic 3D integration
Amorphous silicon
Two Dimensional (2D) Recrystallization
Capping layer
Thermal-Mechanical Reliability Analysis of Connection Structure between Redistribution Layer and TSV for MEMS Packaging
其他
2016-01-01
Meng, Wei
;
Zeng, Qinghua
;
Guan, Yong
;
Chen, Jing
;
Jin, Yufeng
收藏
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浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
MEMS packaging
reliability
RDL opening
copper thickness
insulation layer thickness
3D INTEGRATION
METALLIZATION
OPTIMIZATION
SILICON
COPPER
Bias-dependent High Frequency Characterization of Through-Silicon Via (TSV) for 3D Integration
其他
2016-01-01
Sun, Xin
;
Fang, Runiu
;
Liu, Huan
;
Miao, Min
;
Jin, Yufeng
收藏
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浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Through-silicon via (TSV)
S parameter
RLGC extraction
MOS effect
CAPACITANCE
VIAS
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