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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：会议     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Interfacial reactions and formation of inter metallic compound of Sn-ball/Sn-3.0Ag-0.5Cu-paste/Cu joints in flip-chip on BGA packaging (CPCI-S收录) 会议 作者:  Huang, Jia-Qiang[1];  Zhou, Min-Bo[1];  Li, Wang-Yun[1];  Zhang, Xin-Ping[1] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/11 lead-free solder joint  interfacial reaction  microstructure  BGA  differential scanning calorimetry   Research on thermal-electric coupling effect of the Copper Pillar Bump in the Flip Chip Packaging (CPCI-S收录) 会议 作者:  Fu Zhiwei[1,2];  Zhou Bin[1,2];  Yao Ruohe[1];  Li Xunping[2] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/11 Copper pillar bumps  thermal-electric coupling  Joule heat effcet  current density   Research on thermal-electric coupling effect of the copper pillar bump in the flip chip packaging (EI收录) 会议 Wuhan, China, 作者:  Fu, Zhiwei[1,2];  Zhou, Bin[1,2];  Yao, Ruohe[1];  Li, Xunping[2] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/04/11 Copper  Current density  Electronics packaging  Joule heating  Packaging  Stress concentration  Temperature distribution   Size effect on the interfacial reactions and microstructural evolution of Cu/Sn3.0Ag0.5Cu-ball/Sn3.0Ag0.5Cu-paste/Cu joints in flip-chip on B (EI收录) 会议 Wuhan, China, 作者:  Huang, Jia-Qiang[1,2];  Zhou, Min-Bo[1];  Li, Wang-Yun[1,2];  Zhang, Xin-Ping[1,2] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/11 Ball grid arrays  Electronics packaging  Flip chip devices  Isotherms  Lead  free solders  Microstructural evolution  Microstructure  Size determination  Soldered joints  Soldering  Soldering alloys  Surface chemistry   Size effect on the interfacial reactions and microstructural evolution of Cu/Sn3.0Ag0.5Cu-ball/Sn3.0Ag0.5Cu-paste/Cu joints in flip-chip on B (CPCI-S收录) 会议 作者:  Huang, Jia-Qiang[1,2];  Zhou, Min-Bo[1];  Li, Wang-Yun[1,2];  Zhang, Xin-Ping[1,2] 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/04/11 BGA solder joint  size effect  lead-free solder  interfacial reaction  microstructure   Reliability analysis and case studies on FCBGA packaged devices (EI收录) 会议 Changsha, China, 作者:  Lin, Xiao-Ling[1];  Xie, Shao-Feng[1];  Yao, Ruo-He[2] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/11 Chip scale packages  Cracks  Electronics packaging  Failure (mechanical)  Failure analysis  Field programmable gate arrays (FPGA)  Flip chip devices  Integrated circuit interconnects  Packaging  Reconfigurable hardware  Reliability  Soldered joints  Soldering  Soldering alloys  Thermal stress   Reliability Analysis and Case Studies on FCBGA Packaged Devices (CPCI-S收录) 会议 作者:  Lin, Xiao-ling[1];  Xie, Shao-feng[1];  Yao, Ruo-he[2] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/11 Flip chip plastic ball grid array (FC-PBGA)  thermal stress  reflowing  reliability analysis   Size and geometry effects on the electromigration behaviour of flip-chip Sn3.5Ag solder joints (CPCI-S收录) 会议 作者:  Qin, Hong-bo[1,2];  Yue, Wu[1,3];  Zhang, Xin-Ping[1];  Yang, Dao-guo[2] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/04/11 electromigration  solder joint  size and geometry effects  current density  finite element analysis