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用于元器件电离辐照的X射线辐照方法 专利
申请日期: 2017-09-29,
作者:  李豫东;  于刚;  于新;  何承发;  文林
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一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06,
作者:  孙静;  郭旗;  施炜雷;  于新;  何承发
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一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06, 公开日期: 2019-05-31
作者:  孙静;  郭旗;  施炜雷;  于新;  何承发
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一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法 专利
申请日期: 2014-08-20,
作者:  郭红霞;  陈伟;  郭旗;  何承发;  罗尹虹
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