一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法
孙静; 郭旗; 施炜雷; 于新; 何承发; 余学峰; 陆妩
2017-06-06
著作权人中国科学院新疆理化技术研究所
文献子类发明专利
英文摘要

本发明涉及辐射环境探测技术领域,涉及一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法。该探测系统包括探头模块、恒流源模块、数据采集模块和控制模块;所述控制模块输入端与PC机相连,控制模块输出端与恒流源模块、数据采集模块和探头模块相连;所述恒流源模块与探头模块相连;所述数据采集模块的输入端与探头模块相连,数据采集模块的输出端与PC机相连;所述探头模块包括SOI结构的辐照传感器。本发明实现了星用PMOS剂量计的传感器国产化;提高了灵敏度,可用于更低累积剂量的测试;基于此结构的探测器便携、灵活、易用,适用于空间环境监测、半导体元器件电离效应评估及寿命预测。

公开日期2019-05-31
申请日期2016-12-19
状态已授权
内容类型专利
源URL[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/6577]  
专题固体辐射物理研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
孙静,郭旗,施炜雷,等. 一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法. 2017-06-06.
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