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宁波材料技术与工程研... [2]
理论物理研究所 [1]
新疆理化技术研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2018 [2]
2011 [1]
2006 [1]
学科主题
Physics [4]
Materials ... [3]
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Aqueous Solution Induced High-Dielectric-Constant AlOx : Y Films for Thin-Film Transistor Applications
期刊论文
JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2018, 卷号: 18, 期号: 11, 页码: 7566-7572
作者:
Liang, Lingyan
;
Wu, Weihua
;
Cao, Hongtao
;
Lan, Linfeng
;
Yao, Meiyi
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2018/12/04
Amorphous Oxide Semiconductors
Field-effect Transistors
Low-temperature
Gate Dielectrics
Low-voltage
Photochemical Activation
Electrical Performance
Combustion Synthesis
High-mobility
Electronics
Aqueous Solution Induced High-Dielectric-Constant AlOx : Y Films for Thin-Film Transistor Applications
期刊论文
JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2018, 卷号: 18, 期号: 11, 页码: 7566-7572
作者:
Wu, Weihua
;
Liang, Yu
;
Cao, Hongtao
;
Lan, Linfeng
;
Yao, Meiyi
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2018/12/04
Amorphous Oxide Semiconductors
Field-effect Transistors
Low-temperature
Gate Dielectrics
Low-voltage
Photochemical Activation
Electrical Performance
Combustion Synthesis
High-mobility
Electronics
Ni-Al-O diffusion barrier layer for high-kappa metal-oxide-semiconductor capacitor
期刊论文
THIN SOLID FILMS, 2011, 卷号: 519, 期号: 10, 页码: 3358-3362
作者:
Wu D. Q.
;
Jia R.
;
Yao J. C.
;
Zhao H. S.
;
Chang A. M.
收藏
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浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2013/11/07
High-kappa gate dielectrics
Leakage current density
Er(2)O(3)
Ni-Al-O
Diffusion barrier layer
First-principles theory of tunneling currents in metal-oxide-semiconductor structures
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2006, 卷号: 89, 期号: 3, 页码: -
作者:
Zhang, X. -G.
;
Lu, Zhong-Yi
;
Pantelides, Sokrates T.
;
Zhang, XG , Oak Ridge Natl Lab, Ctr Nanophys Mat Sci, Oak Ridge, TN 37831 USA
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2012/08/02
Ultrathin Gate Oxides
Band-structure
Electron-gas
States
Junctions
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