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Mechanism of improved electromigration reliability using Fe-Ni UBM in wafer level package 期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 1305-1314
作者:  Gao, LY;  Zhang, H;  Li, CF;  Guo, JD;  Liu, ZQ
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Progress in Application of THz -TDS to Protein Study 期刊论文
SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS, 2008, 卷号: 28, 期号: 10, 页码: 2237
Ma, YJ; Zhao, HW(赵红卫); Dai, B(代斌); Ge, M(葛敏)
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