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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 学科主题：计算机系统结构    内容类型：期刊论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 面向集成电路可靠性挑战的多核处理器虚拟化技术 期刊论文 信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 1 作者:  李晓维;  张磊;  韩银和 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2010/03/30 众核处理器  片上网络  缺陷容忍  性能碎片  虚拟化   集成电路中的时延可测性设计技术 期刊论文 信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 17 作者:  裴颂伟;  李华伟 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2010/03/30 时延测试  可测性设计  小时延缺陷  故障覆盖率  时延测量   纳米级工艺对微处理器设计的挑战与机遇 期刊论文 信息技术快报, 2008, 卷号: 6, 期号: 2, 页码: 1 作者:  胡伟武 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2009/12/18 微处理器  摩尔定律  系统结构  技术转型  跨越创新   纳米级工艺对物理设计的影响 期刊论文 信息技术快报, 2008, 卷号: 6, 期号: 2, 页码: 25 作者:  赵继业;  杨旭 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2009/12/18 纳米级工艺  超大规模集成电路  芯片在片波动  物理设计   集成电路扫描链诊断技术 期刊论文 信息技术快报, 2007, 卷号: 5, 期号: 6, 页码: 1 作者:  李华伟;  胡瑜;  王飞;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2010/01/13 扫描链诊断  故障诊断  可测性设计  可诊断设计   互连线串扰效应的分析与测试技术 期刊论文 信息技术快报, 2007, 卷号: 5, 期号: 6, 页码: 12 作者:  张旻晋;  李华伟;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2010/01/13 串扰  静态时序分析  时延测试   处理器容错技术的相关研究 期刊论文 信息技术快报, 2007, 卷号: 5, 期号: 6, 页码: 25 作者:  张仕健 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2010/01/13 瞬态故障  容错  时间冗余  微处理器结构