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科研机构
半导体研究所 [2]
内容类型
会议论文 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
2005 [1]
2004 [1]
学科主题
微电子学 [2]
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学科主题:微电子学
专题:半导体研究所
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Characterization of stress induced in SOS and Si/gamma-Al2O3/Si heteroepitaxial thin films by Raman spectroscopy
期刊论文
journal of crystal growth, 2005, 卷号: 280, 期号: 1-2, 页码: 222-226
Wang QY
;
Wang J
;
Wang JH
;
Liu ZL
;
Lin LY
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浏览/下载:43/3
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提交时间:2010/03/17
Raman spectra
Design of spectrometer based on volume phase grating for near infrared range
会议论文
3rd international symposium on instrumentation science and technology, xian, peoples r china, aug 18-22, 2004
Li F
;
Xin HL
;
Cao P
;
Liu YL
收藏
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浏览/下载:15/1
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提交时间:2010/10/29
spectrometer
volume phase grating
optical design
resolution
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