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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 学科主题：半导体物理     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Microtwins and twin inclusions in the 3C-SiC epilayers grown on Si(001) by APCVD 期刊论文 science in china series a-mathematics physics astronomy, 2001, 卷号: 44, 期号: 6, 页码: 777-782 Zheng XH; Qu B; Wang YT; Dai ZZ; Yang H; Liang JW 收藏  |  浏览/下载：95/12  |  提交时间：2010/08/12 3C-SiC  microtwins  X-ray four-circle diffractometer  APCVD  CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION  SILICON-CARBIDE  PHASE EPITAXY  THIN-FILMS  GAN  SI  SUBSTRATE  DEFECTS  NITRIDE  MBE   Surface roughness and high density of cubic twins and hexagonal inclusions in cubic GaN epilayers 期刊论文 science in china series a-mathematics physics astronomy, 2001, 卷号: 44, 期号: 6, 页码: 796-800 Qu B; Li SF; Hu GX; Zheng XH; Wang YT; Lin SM; Yang H; Liang JW 收藏  |  浏览/下载：91/3  |  提交时间：2010/08/12 GaN  polarity  surface roughness  FILMS  STABILITY  GROWTH   Multiplicity factor and diffraction geometry factor for single crystal X-ray diffraction analysis and measurement of phase content in cubic GaN/GaAs(001) epilayers 期刊论文 science in china series a-mathematics physics astronomy, 2001, 卷号: 44, 期号: 4, 页码: 497-503 Qu B; Zheng XH; Wang YT; Feng ZH; Han JY; Liu S; Lin SM; Yang H; Liang JW 收藏  |  浏览/下载：106/6  |  提交时间：2010/08/12 four-circle diffraction  GaN  phase content  MOLECULAR-BEAM EPITAXY  GAN FILMS  GROWTH  STABILITY  RATIO   New insight into the origin of twin and grain boundary in InP 期刊论文 solid state communications, 1999, 卷号: 110, 期号: 7, 页码: 403-406 Han Y; Lin L 收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2010/08/12 semiconductors  synchrotron radiation  LEC GROWTH  CZOCHRALSKI  SINGLE-CRYSTALS