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近代物理研究所 [2]
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期刊论文 [2]
学位论文 [1]
发表日期
2021 [3]
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发表日期:2021
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Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6
作者:
Gao, J.
;
Zhang, Q.
;
Xi, K.
;
Li, B.
;
Wang, C.
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提交时间:2022/01/24
SEE
SEU
SOI SRAM
C
Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11
作者:
Wang, Shu
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
He, Ze
;
Huang, Zhiqin
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2021/12/08
SerDes
SRAM-based FPGA
Single Event Upset
Single Event Functional Interrupt
CIS单粒子效应机理及模拟试验方法
学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2021
作者:
蔡毓龙
收藏
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2021/08/27
CMOS图像传感器
单粒子效应
空间辐射效应
Geant4
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