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Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6
作者:  Gao, J.;  Zhang, Q.;  Xi, K.;  Li, B.;  Wang, C.
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SEE  SEU  SOI SRAM  C  
Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits 期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11
作者:  Wang, Shu;  Cai, Chang;  Ning, Bingxu;  He, Ze;  Huang, Zhiqin
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CIS单粒子效应机理及模拟试验方法 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2021
作者:  蔡毓龙
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