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光电技术研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2019 [4]
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发表日期:2019
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3D Super-Resolution Reconstruction Using Microsphere-Assisted Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 22, 页码: 1783-1786
作者:
Xie, Zhongye
;
Hu, Song
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Liu, Junbo
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
microsphere
Fast structured illumination microscopy with reflectance disturbance resistibility and improved accuracy
期刊论文
Optics Express, 2019, 卷号: 27, 期号: 15, 页码: 21508-21519
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
He, Yu
;
Liu, Junbo
;
Feng, Jinhua
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2021/05/06
Optical sectioning microscopy for multilayer structure with micro-scale air gaps measurement
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 2, 页码: 141-144
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Wei, Haojie
;
Liu, Junbo
;
He, Yu
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
thickness measurement
Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy
会议论文
Chengdu, China, June 26, 2018 - June 29, 2018
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Yang, Kejun
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2021/05/06
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