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半导体激光器全局均匀度的检测方法、装置及可读存储介质 专利
专利号: CN109696240A, 申请日期: 2019-04-30, 公开日期: 2019-04-30
作者:  林挺
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半导体激光器发射角度测试方法、装置及可读存储介质 专利
专利号: CN109612408A, 申请日期: 2019-04-12, 公开日期: 2019-04-12
作者:  林挺
收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2019/12/30
半导体激光器局部均匀度的检测方法、装置及可读存储介质 专利
专利号: CN109580174A, 申请日期: 2019-04-05, 公开日期: 2019-04-05
作者:  林挺
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一种基于螺旋测微计的PSD位移精密测量装置 专利
专利号: CN208567794U, 申请日期: 2019-03-01, 公开日期: 2019-03-01
作者:  王翀;  赵瑶;  罗文峰;  张进玉;  王璐
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一种全方位多感测三维光学测头的测试系统 专利
专利号: CN208488071U, 申请日期: 2019-02-12, 公开日期: 2019-02-12
作者:  陈琳;  周惠忠;  夏瑞雪
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