一种基于螺旋测微计的PSD位移精密测量装置
王翀; 赵瑶; 罗文峰; 张进玉; 王璐
2019-03-01
著作权人西安邮电大学
专利号CN208567794U
国家中国
文献子类实用新型
其他题名一种基于螺旋测微计的PSD位移精密测量装置
英文摘要本实用新型属于测量仪器技术领域,特别是涉及一种新型基于螺旋测微计的PSD位移精密测量装置。包括PSD位移传感器、PSD电路结构、底座、固定块、螺旋测微头、电源、半导体激光器、升降调节架和滑块;所述电源设置在半导体激光器上部与半导体激光器电连接;半导体激光器下表面连接升降调节架的上端头;升降调节架底部固定在滑块上,侧面与螺旋测微头的调节头固定连接;调节精度更高,误差更小,还可直接读出PSD位移,使用更加方便。
公开日期2019-03-01
申请日期2018-05-17
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38249]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位西安邮电大学
推荐引用方式
GB/T 7714
王翀,赵瑶,罗文峰,等. 一种基于螺旋测微计的PSD位移精密测量装置. CN208567794U. 2019-03-01.
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