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| 用于元器件电离辐照的X射线辐照方法 专利
申请日期: 2017-09-29,
作者: 李豫东 ; 于刚; 于新; 何承发; 文林
  收藏 | 浏览/下载：10/0 | 提交时间：2019/08/07 |
| 一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06,
作者: 孙静; 郭旗; 施炜雷; 于新; 何承发
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2019/08/07 |
| 一种基于SOI结构的电离总剂量探测系统及方法 专利
申请日期: 2017-06-06, 公开日期: 2019-05-31
作者: 孙静; 郭旗; 施炜雷; 于新; 何承发
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| 辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2017
作者: 周航
收藏 | 浏览/下载：35/0 | 提交时间：2017/09/26
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| 科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
北京: 中国科学院大学, 2017
作者: 曾骏哲
收藏 | 浏览/下载：31/0 | 提交时间：2017/09/26
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| 科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017
作者: 曾骏哲
收藏 | 浏览/下载：13/0 | 提交时间：2017/09/26
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| 辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017
作者: 周航
收藏 | 浏览/下载：10/0 | 提交时间：2017/09/26
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| 基于X射线的晶圆级器件辐照与辐射效应参数提取设备的设计与实现 期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 6, 页码: 828-834
作者: 荀明珠; 李豫东; 郭旗; 何承发; 于新; 于钢; 文林; 张兴尧; 郭旗; 何承发; 李豫东
收藏 | 浏览/下载：21/0 | 提交时间：2017/08/01
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| γ射线电离辐射对商用CMOS APS性能参数的影响 期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 3, 页码: 308-315
作者: Xu, Shou-Long; Zou, Shu-Liang; Huang, You-Jun
收藏 | 浏览/下载：1/0 | 提交时间：2019/12/27
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