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山东大学 [5]
北京大学 [1]
内容类型
期刊论文 [6]
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2015 [6]
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发表日期:2015
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The Current Collapse in AlGaN/GaN High-Electron Mobility Transistors Can Originate from the Energy Relaxation of Channel Electrons?
期刊论文
PLOS ONE, 2015
Mao, Ling-Feng
;
Ning, Huan-Sheng
;
Wang, Jin-Yan
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提交时间:2017/12/03
GAN
TRANSPORT
DEFECT
LAYERS
HFETS
Influence of sapphire substrate thickness on the characteristics of AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2015, 卷号: 85, 页码: 43-49
作者:
Yang, Ming
;
Lin, Zhaojun
;
Zhao, Jingtao
;
Wang, Yutang
;
Li, Zhiyuan
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/17
AlGaN/AlN/GaN HFETs
Sapphire substrate thickness
Strain
A method to determine the strain of the AlGaN barrier layer under the gate in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2015, 卷号: 79, 页码: 21-28
作者:
Zhao, Jingtao
;
Lin, Zhaojun
;
Luan, Chongbiao
;
Chen, Quanyou
;
Yang, Ming
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/17
AlGaN/AlN/GaN HFETs
Strain
Ohmic contact
Improvement of switching characteristics by substrate bias in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field effect transistors
期刊论文
Chinese Physics B, 2015, 卷号: 24, 期号: 11, 页码: 410-413
作者:
Yang M(杨铭)
;
Lin ZJ(林兆军)
;
Zhao JT(赵景涛)
;
Wang YT(王玉堂)
;
Li ZY(李志远)
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/17
AlGaN/GaN heterostructure field effect transistors(HFETs)
switching characteristics
substrate bias
Influence of sapphire substrate thickness on the characteristics of AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
Superlattices and microstructures, 2015, 页码: 43-49
作者:
Yang, Ming
;
Lin, Zhaojun
;
Zhao, Jingtao
;
Wang, Yutang
;
Li, Zhiyuan
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提交时间:2019/12/17
AlGaN/AlN/GaN HFETs
Sapphire substrate thickness
Strain
A method to determine the strain of the AlGaN barrier layer under the gate in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
Superlattices and microstructures, 2015, 页码: 21-28
作者:
Zhao, Jingtao
;
Lin, Zhaojun
;
Luan, Chongbiao
;
Chen, Quanyou
;
Yang, Ming
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提交时间:2019/12/17
AlGaN/AlN/GaN HFETs
Strain
Ohmic contact
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