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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 发表日期：2013     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A high performance HfSiON/TaN NMOSFET fabricated using a gate-last process 期刊论文 Chinese Physcs B, 2013 作者:  Xu GB(许高博);  Xu QX(徐秋霞);  Yin HX(殷华湘) 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2014/10/30 A High Performance In0.7Ga0.3As MOSFET with an InP Barrier Layer for Radio-Frequency Application 期刊论文 CHINESE PHYSICS LETTERS, 2013, 卷号: 30, 期号: 3 Chang, HD; Liu, GM; Sun, B; Zhao, W; Wang, WX; Liu, HG 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2014/01/16 Surface passivation of the Ge substrate by novel nitrogen plasma immersion treatment 期刊论文 semiconductor science and technology, 2013 Lin, Meng; Li, Ming; An, Xia; Yun, Quanxin; Li, Min; Li, Zhiqiang; Liu, Pengqiang; Zhang, Xing; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 INTERFACE  GE(100)  DEVICES  LAYER   A Test Structure and Spectroscopic Method for Monitoring Interface Traps 其他 2013-01-01 Wei, Chao; He, Yandong; Du, Gang; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 test structure  DCIV  interface traps   Investigation of extra traps measured by charge pumping technique in high voltage zone in p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors with HfO2/metal gate stacks 期刊论文 应用物理学快报, 2013 Ho, Szu-Han; Chang, Ting-Chang; Wang, Bin-Wei; Lu, Ying-Shin; Lo, Wen-Hung; Chen, Ching-En; Tsai, Jyun-Yu; Chen, Hua-Mao; Liu, Guan-Ru; Tseng, Tseung-Yuen; Cheng, Osbert; Huang, Cheng-Tung; Cao, Xi-Xin 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/11 MOSFETS  STRESS   NiGe(Si)薄膜的热稳定性及其与Ge(Si)接触电学特性研究 学位论文 2013, 2013 汤梦饶 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2016/01/13 Ni(Si1-xGex)  NiGe  热稳定性  费米能级钉扎效应  势垒高度  Ni(Si1-xGex)  NiGe  Thermal stability  Fermi-level pinning effect  Schottky barrier height   高效率同步升压DC_DC变换器的系统分析与设计 学位论文 2013, 2013 杜延滨 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2016/01/13 DC_DC  变换器  PWM  突发模式  DC-DC  Converter  PWM  Burst Mode