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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2011     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 硅后时延通路故障的指令级测试方法研究 学位论文 北京: 中国科学院研究生院, 2011 作者:  Xiaobing;  Shi 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2011/06/07 通路时延故障,硅后测试,时速路径,指令级测试,约束atpg   Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2011, 卷号: 30, 期号: 3, 页码: 455-463 作者:  Wu, Shianling;  Wang, Laung-Terng;  Wen, Xiaoqing;  Jiang, Zhigang;  Tan, Lang 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/16 Aligned launch-on-capture  at-speed scan testing  double-capture  hybrid launch-on-capture  launch-on-capture  one-hot launch-on-capture  staggered launch-on-capture   Pseudo-Functional Testing for Small Delay Defects Considering Power Supply Noise Effects 会议论文 2011 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, San Jose, CA, United states 作者:  Feng Yuan;  Xiao Liu;  Qiang Xu 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2015/08/25 virtual circuit model for low power scan testing in linear decompressor-based compression environment 会议论文 20th Asian Test Symposium, ATS 2011, New Delhi, India, November 20, 2011 - November 23, 2011 Chen Zhen; Li Jia; Xiang Dong; Huang Yu 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2013/10/08 Circuit theory  Filling  Low power electronics