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科研机构
半导体研究所 [7]
内容类型
期刊论文 [6]
会议论文 [1]
发表日期
2008 [7]
学科主题
半导体材料 [3]
半导体化学 [2]
光电子学 [1]
半导体物理 [1]
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发表日期:2008
专题:半导体研究所
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The growth temperatures dependence of optical and electrical properties of InN films
期刊论文
science in china series g-physics mechanics & astronomy, 2008, 卷号: 51, 期号: 3, 页码: 237-242
Liu, B
;
Zhang, R
;
Xie, ZL
;
Xiu, XQ
;
Li, L
;
Kong, JY
;
Yu, HQ
;
Han, P
;
Gu, SL
;
Shi, Y
;
Zheng, YD
;
Tang, CG
;
Chen, YH
;
Wang, ZG
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浏览/下载:48/2
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提交时间:2010/03/08
metalorganic chemical vapor deposition
X-ray diffraction
photoluminescence
Structural evolution of mechanically alloyed nanocrystalline FeAl intermetallics
期刊论文
journal of alloys and compounds, 2008, 卷号: 455, 期号: 39815, 页码: 207-209
Shi, H
;
Guo, D
;
Ouyang, Y
收藏
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浏览/下载:99/7
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提交时间:2010/03/08
mechanical alloying
X-ray diffraction
intermetallics
FeAl
Investigation of native defects and property of bulk ZnO single crystal grown by a closed chemical vapor transport method
期刊论文
journal of crystal growth, 2008, 卷号: 310, 期号: 3, 页码: 639-645
Wei, XC
;
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Li, JM
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浏览/下载:51/0
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提交时间:2010/03/08
defects
X-ray diffraction
growth from vapor
oxides
semiconducting II-VI materials
Effects of disk rotation rate on the growth of ZnO films by low-pressure metal-organic chemical vapor deposition
期刊论文
thin solid films, 2008, 卷号: 516, 期号: 6, 页码: 925-928
Zhang, PF
;
Wei, HY
;
Cong, GW
;
Hu, WG
;
Fan, HB
;
Wu, JJ
;
Zhu, QS
;
Liu, XL
收藏
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浏览/下载:29/3
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提交时间:2010/03/08
X-ray diffraction
metal-organic chemical vapor deposition
zinc oxide
structural properties
New observations on the pressure dependence of luminescence from Eu2+-doped MF2 (M = Ca, Sr, Ba) fluorides
期刊论文
journal of physical chemistry a, 2008, 卷号: 112, 期号: 21, 页码: 4772-4777
Su FH
;
Chen W
;
Ding, K
;
Li GH
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浏览/下载:63/0
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提交时间:2010/03/08
X-RAY-DIFFRACTION
Characterization of bulk ZnO single crystal grown by a CVT method - art. no. 68410F
会议论文
conference on solid state lighting and solar energy technologies, beijing, peoples r china, nov 12-14, 2007
Wei, XC
;
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Li, JM
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2010/03/09
zinc oxide
X-ray diffraction
defects
single crystal
Effect of Interface Roughness and Dislocation Density on Electroluminescence Intensity of InGaN Multiple Quantum Wells
期刊论文
chinese physics letters, 2008, 卷号: 25, 期号: 11, 页码: 4143-4146
Zhao, DG
;
Jiang, DS
;
Zhu, JJ
;
Liu, ZS
;
Zhang, SM
;
Wang, YT
;
Yang, H
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2010/03/08
X-RAY-DIFFRACTION
EPITAXIAL GAN
DEPENDENCE
PHOTOLUMINESCENCE
GROWTH
FILMS
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