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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2006    专题：半导体研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 High-precision determination of lattice constants and structural characterization of inn thin films 期刊论文 Journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279 作者:  Wu, MF;  Zhou, SQ;  Vantomme, A;  Huang, Y;  Wang, H 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/05/12 High-precision determination of lattice constants and structural characterization of InN thin films 期刊论文 journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279 Wu MF; Zhou SQ; Vantomme A; Huang Y; Wang H; Yang H 收藏  |  浏览/下载：108/0  |  提交时间：2010/04/11 X-RAY-DIFFRACTION  BAND-GAP  EPITAXIAL LAYERS  INDIUM NITRIDE  HEXAGONAL INN  CUBIC INN  GROWTH  PARAMETERS  INGAN  PHASE   Comparison between double crystals X-ray diffraction micro-Raman measurement on composition determination of high Ge content Si1_xGex layer epitaxied on Si substrate 期刊论文 journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654 Zhao L (Zhao Lei); Zuo YH (Zuo Yuhua); Cheng BW (Cheng Buwen); Yu JZ (Yu Jinzhong); Wang QM (Wang Qiming) 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2010/04/11 Si1_xGex  Ge content  composition determination  double crystals X-ray diffraction (DCXRD)  micro-Raman measurement  BAND-GAP  HETEROSTRUCTURES  SUPERLATTICES  ALLOYS  RELAXATION  SCATTERING  THICKNESS  STRAIN