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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2016     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy 期刊论文 MICRON, 2016, 卷号: 88, 页码: 54-59 作者:  Xi, Shouzhi;  Guo, Na;  Jie, Wanqi;  Du, Guanghua;  Shen, Hao 收藏  |  浏览/下载：100/0  |  提交时间：2018/05/31 Proton  Radiation damage  Ion beam induced charge microscopy  CdZnTe  Bias dependent