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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2021     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Mechanism of Ionization Damage in Large Eight-Transistor Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Color Image Sensors 期刊论文 JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2021, 卷号: 16, 期号: 11, 页码: 1755-1761 作者:  Feng, J (Feng, Jie) [1] , [2];  Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2] , [3];  Li, YD (Li, Yu-Dong) [1] , [2];  Wen, L (Wen, Lin) [1] , [2];  Guo, Q (Guo, Qi) [1] , [2] 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2022/03/24 CMOS Color Image Sensor  Ionization Damage  Radiation-Sensitive Parameters