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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2015     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Reliability Analysis of Multi-Node SDDC Using Fault Tree 会议论文 2015 International Industrial Informatics and Computer Engineering Conference(IIICEC 2015), 中国陕西西安, 2015-01-10 作者:  Wan Yaping*;  Luo Chenhui;  Liu Zhiming 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/27 Fault Tree  Cloud Computing  Reliability  SDDC   Gate Capacitance Measurement Using a Self-Differential Charge-Based Capacitance Measurement Method 期刊论文 2015, 卷号: 36, 期号: 12, 页码: 1271 作者:  Zhang, Peiyong[1];  Wan, Qing[1];  Feng, Chenhui[1];  Wang, Huiyan[2] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/26