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Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/05
Extensions of Wielandt's min-max principles for positive semi-definite pencils 其他
2014-01-01
Liang, Xin; Li, Ren-Cang
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2015/11/10
Trace minimization principles for positive semi-definite pencils 其他
2013-01-01
Liang, Xin; Li, Ren-Cang; Bai, Zhaojun
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10
Electrode/oxide interface engineering by inserting single-layer graphene: Application for HfOx-based resistive random access memory 其他
2012-01-01
Chen, Hong-Yu; Tian, He; Gao, Bin; Yu, Shimeng; Liang, Jiale; Kang, Jinfeng; Zhang, Yuegang; Ren, Tian-Ling; Wong, H.-S. Philip
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/17
Stress induced leakage current and time dependent dielectric breakdown characteristics of ultra-thin HFO2 gate dielectrics 其他
2004-01-01
Yang, Hong; Sa, Ning; Tang, Liang; Han, Ruqi; Yu, Y.H.; Ren, C.; Kang, Jinfeng
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/17
TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack 其他
2004-01-01
Yang, Hong; Sa, Ning; Tang, Liang; Liu, Xiaoyan; Kang, Jinfeng; Han, Ruqi; Yu, H.Y.; Ren, C.; Li, M.-F.; Chan, D.S.H.; Kwong, D.-L.
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Multi-distorted invariant pattern recognition with Chebyshev-Fourier moments 其他
2003-01-01
Bo, Wu-Rigen; Ping, Zi-Liang; Ren, Hai-Ping; Sheng, Yun-Long
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/16

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