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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2016     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Correlated analysis of 2 MeV proton-induced radiation damage in CdZnTe crystals using photoluminescence and thermally stimulated current techniques 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2016, 卷号: 386, 页码: 16-21 作者:  Rong, Caicai;  Gu, Yaxu;  Zha, Gangqiang;  Wang, Tao;  Fu, Xu 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2018/05/31 Proton  Radiation damage  CdZnTe  Photoluminescence (PL)  Thermally stimulated current (TSC)  Dislocation   Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy 期刊论文 MICRON, 2016, 卷号: 88, 页码: 54-59 作者:  Xi, Shouzhi;  Guo, Na;  Jie, Wanqi;  Du, Guanghua;  Shen, Hao 收藏  |  浏览/下载：100/0  |  提交时间：2018/05/31 Proton  Radiation damage  Ion beam induced charge microscopy  CdZnTe  Bias dependent   Te inclusion-induced electrical field perturbation in CdZnTe single crystals revealed by Kelvin probe force microscopy 期刊论文 MICRON, 2016, 卷号: 88, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 48-53 作者:  Gu, Yaxu;  Jie, Wanqi;  Li, Linglong;  Xu, Yadong;  Yang, Yaodong 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/02 Kelvin probe force microscopy  Electrical property  Bias dependent  CdZnTe  Te inclusion   MEIOTIC F-BOX Is Essential for Male Meiotic DNA Double-Strand Break Repair in Rice 期刊论文 PLANT CELL, 2016, 卷号: 28, 期号: 8 作者:  He, Yi;  Wang, Chong;  Higgins, James D.;  Yu, Junping;  Zong, Jie 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/06