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北京大学 [8]
兰州理工大学 [1]
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其他 [9]
发表日期
2020 [1]
2016 [1]
2010 [2]
2009 [1]
2008 [3]
2005 [1]
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85
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Erratum to ‘Converse flexoelectricity around ferroelectric domain walls’ [Acta Materialia 191 (2020) 158-165/A-19-2693R1] (Acta Materialia (2020) 191 (158-165), (S1359645420302494), (10.1016/j.actamat.2020.03.054))
其他
2020-10-01
作者:
Wang, Y.J.
收藏
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浏览/下载:34/0
  |  
提交时间:2020/11/18
A fast and low computation consumption model for system-level thermal management in 3D IC
其他
2016-01-01
Pi, Yudan
;
Xu, Wenhua
;
Jin, Yufeng
;
Wang, Wei
;
Wang, Ningyu
;
Zhang, Jiaxi
;
Luo, Guojie
;
Miao, Min
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
thermal management
3D IC
low computation
The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs
其他
2010-01-01
Wang, Jian
;
Wang, Wenhua
;
Huang, Detao
;
Xue, Shoubin
;
Wang, Sihao
;
Liu, Wen
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/11/13
NBTI DEGRADATION
RADIATION
INSTABILITY
Separation of blood on a chip utilizing spiral micorchannel with fence and cofferdam as filtration structures
其他
2010-01-01
Geng, Zhaoxin
;
Xu, Zhaoqi
;
Wang, Wei
;
Su, Wenhua
;
Li, Zhihong
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Enhanced light-extraction in GaN light-emitting diode with binary blazed grating reflector
其他
2009-01-01
Wenhua, Wu
;
Huaming, Wu
;
Tingwei, Wu
;
Yi, Wang
;
Zhiping, Zhoub
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/17
Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs
其他
2008-01-01
Xue, Shoubin
;
Wang, Pengfei
;
Huang, Ru
;
Wu, Dake
;
Pei, Yunpeng
;
Wang, Wenhua
;
Zhang, Xing
收藏
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浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2015/11/10
THIN GATE OXIDES
HEAVY-ION IRRADIATION
INDUCED LEAKAGE CURRENT
RELIABILITY DEGRADATION
CMOS TRANSISTORS
DEPENDENCE
BREAKDOWN
Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs
其他
2008-01-01
Shoubin Xue
;
Pengfei Wang
;
Ru Huang
;
Dake Wu
;
Yunpeng Pei
;
Wenhua Wang
;
Xing Zhang
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2017/12/03
drain
irradiation
capture
defects
saturation
lager
proton
hardness
degraded
isolation
drain
irradiation
capture
defects
saturation
lager
proton
hardness
degraded
isolation
A new self-aligned BOI (Body-on-insulator) finfet fabricated on bulk SI wafers
其他
2008-01-01
Wang, Runsheng
;
Xu, Xiaoyan
;
Zhuge, Jing
;
Chen, Gang
;
Wang, Wenhua
;
Zhang, Xing
;
Wang, Yangyuan
;
Huang, Ru
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
A new test data compression/decompression scheme to reduce SOC test time
其他
2005-01-01
Long, Jieyi
;
Feng, Jianhua
;
Zhu, Lida
;
Xu, Wenhua
;
Wang, Xinan
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/15
SOC
test compression
don't cared bits specification
test data partition
decompression overhead
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