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多晶X射线衍射-光催化联用原位表征分析(发明) 专利
专利号: 201510120892.3, 申请日期: 2017-05-17, 公开日期: 2015-07-08
作者:  杨培菊;  焦正波;  牛建中;  何荔;  毕迎普
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光照-X射线光电子能谱同步分析测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201520953338.9, 申请日期: 2016-04-13, 公开日期: 2016-04-13
作者:  刘佳梅;  毕迎普;  焦正波;  黄晓卷;  杨培菊
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多晶X射线衍射-光催化联用原位表征分析系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 201520156695.2, 申请日期: 2015-07-01, 公开日期: 2015-07-01
作者:  何荔;  毕迎普;  杨培菊;  任伟;  焦正波
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