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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：沈阳自动化研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位    发表日期：2010     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A height error compensation method based on contact mode AFM 会议论文 2010 8th World Congress on Intelligent Control and Automation, WCICA 2010, Jinan, China, July 7- 9, 2010 作者:  Wei YJ(魏阳杰);  Wu CD(吴成东);  Dong ZL(董再励) 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/06/06 Atomic force microscopy  Atoms  Experiments  Information fusion  Intelligent control  Microscopes