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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2005     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Residual Stress on Surface and Cross-section of Porous Silicon Studied by Micro-Raman Spectroscopy 期刊论文 中国物理快报：英文版, 2005, 卷号: 第22卷, 页码: P984-986 作者:  Lei Zhenkun1;  Kang Yilan2;  Cen Hao2;  Hu Ming3;  Qiu Yu2 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/26 剩余压力/横截面/多孔渗水硅/微拉曼光谱学