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科研机构
西安光学精密机械研究... [5]
内容类型
专利 [5]
发表日期
2001 [2]
2000 [1]
1998 [1]
1996 [1]
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专题:西安光学精密机械研究所
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Fiber-filtered laser system for use in measuring thin film thicknesses
专利
专利号: WO2001055671A1, 申请日期: 2001-08-02, 公开日期: 2001-08-02
作者:
GEORGE, ALAN
;
YANG, WILLIAM
;
LAW, JOANNE
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提交时间:2019/12/30
Fiber-filtered laser system for use in measuring thin film thicknesses
专利
专利号: WO2001055671A1, 申请日期: 2001-08-02, 公开日期: 2001-08-02
作者:
GEORGE, ALAN
;
YANG, WILLIAM
;
LAW, JOANNE
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/30
Method and apparatus for performing optical frequency domain reflectometry
专利
专利号: US6160826, 申请日期: 2000-12-12, 公开日期: 2000-12-12
作者:
SWANSON, ERIC A.
;
CHINN, STEPHEN R.
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/24
Optical waveguide including singlemode waveguide channels coupled to a multimode fiber
专利
专利号: US5712937, 申请日期: 1998-01-27, 公开日期: 1998-01-27
作者:
ASAWA, CHARLES K.
;
ASAWA, MIKE H.
;
ASAWA, JANE K.
;
ASAWA, MICHI
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2019/12/24
Low noise and narrow linewidth external cavity semiconductor laser for coherent frequency and time domain reflectometry
专利
专利号: US5511086, 申请日期: 1996-04-23, 公开日期: 1996-04-23
作者:
SU, CHIN B.
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提交时间:2019/12/23
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