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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2011 [2]
2003 [2]
学科主题
半导体材料 [3]
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Microwave Study of FeSe(0.3)Te(0.7) Thin Film by TE(011)-Mode Sapphire Dielectric Resonator
期刊论文
ieee transactions on applied superconductivity, 2011, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 599-601
Wu, Y
;
Zhou, SY
;
Wang, XY
;
Cao, LX
;
Zhang, XQ
;
Luo, S
;
He, YS
;
Barannik, AA
;
Cherpak, NT
;
Skresanov, VN
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2012/02/06
Cavity resonator
microwave measurement
multi-gap
node
Microwave Study of FeSe0.3Te0.7 Thin Film by TE011-Mode Sapphire Dielectric Resonator
期刊论文
ieee transactions on applied superconductivity, 2011, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 599-601
作者:
Wang XY
收藏
  |  
浏览/下载:58/4
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提交时间:2011/07/15
Cavity resonator
microwave measurement
multi-gap
node
Influences of reactor pressure of gan buffer layers on morphological evolution of gan grown by mocvd
期刊论文
Journal of crystal growth, 2003, 卷号: 256, 期号: 3-4, 页码: 248-253
作者:
Chen, J
;
Zhang, SM
;
Zhang, BS
;
Zhu, JJ
;
Shen, XM
收藏
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2019/05/12
In situ laser reflectometry
Lateral overgrowths
Surface morphology
Metalorganic chemical vapor deposition
Gan
Influences of reactor pressure of GaN buffer layers on morphological evolution of GaN grown by MOCVD
期刊论文
journal of crystal growth, 2003, 卷号: 256, 期号: 3-4, 页码: 248-253
作者:
Zhang SM
收藏
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浏览/下载:292/3
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提交时间:2010/08/12
in situ laser reflectometry
lateral overgrowths
surface morphology
metalorganic chemical vapor deposition
GaN
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
LIGHT-EMITTING-DIODES
SAPPHIRE SUBSTRATE
NUCLEATION LAYERS
QUALITY
TEMPERATURE
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