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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：Aberrations - Diffraction - Diffraction gratings - Interferometers - Semiconductor device manufacture - Shearing - Two dimensional - Units of measurement     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Vector analysis of two-dimensional Ronchi grating in the metrology system 会议论文 Proceedings of SPIE: International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2013: Micro/Nano Optical Imaging Technologies and Applications, 2013 作者:  Yao, Zhengpeng;  Xing, Tingwen 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2016/11/23