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科研机构
海洋研究所 [1]
西安光学精密机械研究... [1]
内容类型
专利 [2]
发表日期
2018 [1]
2010 [1]
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一种半导体激光器芯片固晶检验装置
专利
专利号: CN207636466U, 申请日期: 2018-07-20, 公开日期: 2018-07-20
作者:
孙希政
;
汤庆敏
;
刘存志
;
肖成峰
;
郑兆河
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提交时间:2019/12/24
双极化X波段雷达海浪参数测量系统
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910017953.8, 申请日期: 2010-02-03, 公开日期: 2010-02-03
何宜军
;
崔利民
;
申 辉
;
汪学刚
;
陈祝明
;
朱晓章
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浏览/下载:47/0
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提交时间:2014/08/04
1.一种双极化X波段雷达海浪参数测量系统
所述雷达主机一输入端与雷达控制单元连接
所述雷达主机一输出端与显示器连接
所述雷达主机另一输出端通过通讯接口与计算机的数据采集模块连接
所述数据采集模块采集雷达主机输出的视频信号
所述计算机通过I/O接口与极化切换控制模块连接
所述双极化天线一端与雷达主机通讯连接
包括一雷达
接收控制单元的控制信号
显示未处理的海杂波视频信号
并将视频信号转换为数字信号存储于计算机的存储单元
所述计算机通过极化切换控制模块与双极化天线控制连接
另一端通过与极化切换控制模块连接。
其特征在于
计算机通过数据处理程序处理数字信号
所述雷达由雷达主机及与雷达主机通讯连接的双极化天线组成
通过显示单元显示海浪参数信息
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