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一种超细单晶光纤包层加工方法及系统 专利
专利号: CN202010928859.4, 申请日期: 2020-09-07, 公开日期: 2020-12-11
作者:  李明;  李珣;  刘红军;  李晨晨
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一种闪烁体余辉精确测量装置及方法 专利
专利号: CN202010897910.X, 申请日期: 2020-08-31, 公开日期: 2020-12-04
作者:  刘永安;  盛立志;  强鹏飞;  苏桐;  刘哲
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