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p型金属氧化物半导体场效应晶体管低剂量率辐射损伤增强效应模型研究 期刊论文
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 6, 页码: 812-818
作者:  高博;  余学峰;  任迪远;  崔江维;  兰博
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运算放大器不同剂量率的辐射损伤效应 期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 7, 页码: 1464-1468
作者:  陆妩;  任迪远;  郭旗;  余学峰;  艾尔肯
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