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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：西安光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位    发表日期：2019     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 一种靶场光电经纬仪管控平台 专利 专利号: CN201910537801.4, 申请日期: 2019-06-20, 公开日期: 2019-09-27 作者:  冯旭斌;  李哲;  乔永明;  刘锋;  田广元 收藏  |  浏览/下载：88/0  |  提交时间：2019/12/23 光电经纬仪光学系统变形测试系统 专利 专利号: CN201821544393.2, 申请日期: 2019-05-31, 公开日期: 2019-05-31 作者:  赵怀学;  周艳;  田留德;  赵建科;  薛勋 收藏  |  浏览/下载：51/0  |  提交时间：2019/08/22