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苏州纳米技术与纳米... [10]
西安交通大学 [4]
微电子研究所 [3]
北京大学 [1]
内容类型
期刊论文 [15]
会议论文 [3]
发表日期
2018 [1]
2017 [3]
2016 [9]
2015 [4]
2014 [1]
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Characterization of Transient Threshold Voltage Shifts in Enhancement-and Depletion-mode AlGaN/GaN Metal-Insulator-Semiconductor (MIS)-HEMTs
会议论文
作者:
Cui, Miao
;
Cai, Yutao
;
Lam, Sang
;
Liu, Wen
;
Zhao, Chun
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/11/26
AlGaN/GaN MIS-HEMTs
Frequency dependence
Frequency independent
High-voltage switching
Metal-insulator-semiconductors
MIS-HEMT
Threshold voltage shifts
Voltage hysteresis
Interface Si donor control to improve dynamic performance of AlGaN/GaN MIS-HEMTs
期刊论文
AIP ADVANCES, 2017
作者:
Song, L
;
Fu, K(付凯)
;
Zhang, ZL(张志利)
;
Sun, SC
;
Li, WY
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2018/02/05
AlGaN/GaN MIS-HEMTs of Very-Low Vth Hysteresis and Current Collapse With In-Situ Pre-Deposition Plasma Nitridation and LPCVD-Si3N4 Gate Insulator
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017
作者:
Zhang, Zhili(张志利)
;
Li, Weiyi
;
Fu, Kai(付凯)
;
Yu, Guohao(于国浩)
;
Zhang, Xiaodong(张晓东)
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2018/02/05
Au-Free AlGaN/GaN MIS-HEMTs With Embedded Current Sensing Structure for Power Switching Applications
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2017, 卷号: 64, 页码: 3515-3518
作者:
Sun, Ruize
;
Liang, Yung C.
;
Yeo, Yee-Chia
;
Zhao, Cezhou
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/11/26
high-temperature operation
AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor high electron mobility transistor (MIS-HEMT)
power converter control
embedded current sensor
High Uniformity Normally-OFF GaN MIS-HEMTs Fabricated on Ultra-Thin-Barrier AlGaN/GaN Heterostructure
期刊论文
IEEE Electron Device Letters, 2016
作者:
Liu XY(刘新宇)
;
Huang S(黄森)
;
Wang XH(王鑫华)
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2017/05/08
Investigation of the interface between LPCVD-SiNx gate dielectric and III-nitride for AlGaN/GaN MIS-HEMTs
期刊论文
Journal of Vacuum Science & Technology B, 2016
作者:
Wang XH(王鑫华)
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2017/05/08
High Uniformity Normally-OFF GaN MIS-HEMTs Fabricated on Ultra-Thin-Barrier AlGaN/GaN Heterostructure
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2016, 卷号: 37, 期号: 12
作者:
Huang, Sen
;
Liu, Xinyu
;
Wang, Xinhua
;
Kang, Xuanwu
;
Zhang, Jinhan
收藏
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浏览/下载:74/0
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提交时间:2017/03/11
Normally OFF GaN-on-Si MIS-HEMTs Fabricated With LPCVD-SiNx Passivation and High-Temperature Gate Recess
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 2
作者:
Shi, YJ
;
Huang, S
;
Bao, QL
;
Wang, XH
;
Wei, K
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2017/03/11
Fabrication of normally-off AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor high-electron-mobility transistors by photo-electrochemical gate recess etching in ionic liquid
期刊论文
APPLIED PHYSICS EXPRESS, 2016, 卷号: 9, 期号: 8
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Qin, SJ(秦双娇)
;
Fu, K(付凯)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Li, WY
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浏览/下载:75/0
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提交时间:2017/03/11
Compatibility of AlN/SiNx Passivation With LPCVD-SiNx Gate Dielectric in GaN-Based MIS-HEMT
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2016, 卷号: 37, 期号: 3
作者:
Hua, MY
;
Lu, YY
;
Liu, SH
;
Liu, C
;
Fu, K(付凯)
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2017/03/11
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