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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：西安理工大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Reliability Analysis for Bypass Seepage Stability of Complex Reinforced Earth-Rockfill Dam with High-Order Practical Stochastic Response Surface Method 期刊论文 2019, 卷号: 2019 作者:  He, Jinwen;  Zhang, Ping;  Li, Xiaona 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/20 Safety Standard for Slopes of Ultra-high Earth and Rock-Fill Dams in China Based on Reliability Analysis 期刊论文 2019, 卷号: 17, 页码: 1829-1844 作者:  Li, Yanlong;  Li, Kangping;  Wen, Lifeng;  Li, Bin;  Liu, Yunhe 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/20 Earth and rock-fill dams  Stability analysis  Safety factor  Reliability index   Study of the Lifetime of High-Power GaAs PCSSs Under Different Energy Storage Modes 期刊论文 2017, 卷号: 32, 页码: 4644-4651 作者:  Ma, Cheng;  Yang, Lei;  Wang, Shaoqiang;  Ji, Yu;  Zhang, Lin 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/20 Power semiconductor switches  semiconductor device breakdown  semiconductor device reliability  semiconductor device thermal factors  semiconductor switches   Research on the Failure Mechanism of High-Power GaAs PCSS 期刊论文 2015, 卷号: 30, 页码: 2427-2434 作者:  Shi, Wei;  Ma, Cheng;  Li, Mengxia 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/20 Power semiconductor switches  semiconductor device breakdown  semiconductor device reliability  semiconductor device thermal factors  semiconductor switches   随机性能退化下极小样本高速列车轴承的可靠性评估 期刊论文 2013, 卷号: 32, 页码: 1499-1504 作者:  朱德馨;  刘宏昭 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/20 高速列车轴承 Wiener过程 性能退化 可靠性评估 high-speed train beating wiener process performance deterioration reliability evaluation   Analysis of High Temperature Characteristics and Reliability of Asymmetry GCT 会议论文 2008 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON INDUSTRIAL TECHNOLOGY, VOLS 1-5, 2008-01-01 作者:  Wang Cailin;  Gao Yong;  Nu Li 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/25