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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：华南理工大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Characterizing general scale-free networks by vertex-degree sequences (SCI收录) 期刊论文 CHAOS, 2015, 卷号: 25, 页码: 113111-113111 作者:  Xiao, Wenjun[1];  Lai, Zhengwen[2];  Chen, Guanrong[3] 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/04/25 Sequence analysis  Computer modeling  Network topology  Networks  Probability theory   Modeling interference of bicycles on the right-turning vehicles at signalized intersections based on mechanism approach (EI收录) 会议论文 International Conference on Transportation Engineering 2007, ICTE 2007, Chengdu, China, July 22, 2007 - July 24, 2007 作者:  Qian, Dalin[1];  Situ, Bingqiang[2];  Zheng, Jianyang[3] 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2019/04/17 Data acquisition  Mathematical models  Probability  Signal interference   A formal modeling method for cost-aware service composition (EI收录) 会议 San Diego, CA, United states, 作者:  Xiao, Fangxiong[1];  Min, Huaqing[1];  Bo, Xu[1];  He, Xudong[2] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/04/11 Algebra  Costs  Distributed computer systems  Formal methods  Markov processes  Probability  Quality of service  Software design  Software engineering  Web services  World Wide Web   Breaking Through 1-D Layout Limitations and Regaining 2-D Design Freedom Part II: Stitching Yield Modeling and Optimization (CPCI-S收录) 会议 作者:  Zhou, Jun[1];  Liu, Hongyi[1];  Han, Ting[1];  Chen, Yijian[1] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/11 stitching yield  overlay error  cut hole  overhang  probability of success (POS)   Application of MCMC algorithm in interest rate modeling (EI收录) 会议论文 IMECS 2011 - International MultiConference of Engineers and Computer Scientists 2011, Kowloon, Hong kong, March 16, 2011 - March 18, 2011 作者:  Feng, Xiaoxia[1];  Xie, Dejun[2] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/04/15 Bayesian networks  Computer science  Computer simulation  Engineers  Estimation  Markov processes  Parameter estimation  Probability density function  Sensitivity analysis