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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：上海微系统与信息技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Carrier Profiling of Individual Si Nanowires by Scanning Spreading Resistance Microscopy 期刊论文 NANO LETTERS, 2010, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 171-175 Ou, X; Das Kanungo, P; Kogler, R; Werner, P; Gosele, U; Skorupa, W; Wang, X 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2012/03/24 SILICON NANOWIRES  PILE-UP  PHOSPHORUS  IMPURITIES  INTERFACE  TRANSPORT  GERMANIUM  DENSITY