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科研机构
上海微系统与信息技术... [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2003 [1]
2002 [1]
2001 [1]
学科主题
Engineerin... [3]
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专题:上海微系统与信息技术研究所
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Fabrication of device-grade silicon-on-insulator material from appropriate matches of low oxygen implantation dose and acceleration energy
期刊论文
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2003, 卷号: 21, 期号: 5, 页码: 2001-2010
Chen, M
;
Wang, X
;
Chen, J
;
Dong, YM
;
Yi, WB
;
Liu, XH
;
Wang, X
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提交时间:2012/03/24
OXIDATION ITOX PROCESS
BURIED OXIDE LAYERS
SIMOX WAFERS
ION-IMPLANTATION
TEMPERATURE
SEPARATION
Increased thickness of buried oxide layer of silicon on insulator in separation by implantation of oxygen with water plasma
期刊论文
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2002, 卷号: 20, 期号: 4, 页码: 1570-1573
Chen, J
;
Chen, M
;
Dong, YM
;
Wang, X
;
Zheng, ZH
;
Wang, X
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提交时间:2012/03/24
ION-IMPLANTATION
HIGH-TEMPERATURE
DIFFUSION
HYDROGEN
MECHANISM
OXIDATION
SIMOX
SIO2
Effect of implantation energy on the microstructure evolution of low dose separation of implanted oxygen wafers
期刊论文
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2001, 卷号: 19, 期号: 2, 页码: 337-343
Chen, M
;
Chen, J
;
Zheng, W
;
Li, L
;
Mu, HC
;
Lin, ZX
;
Yu, YH
;
Wang, X
;
Wang, GY
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2012/03/24
ION-IMPLANTATION
LAYER FORMATION
SIMOX
SILICON
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