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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：上海微系统与信息技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 相变存储器电学性能测试系统与存储性能演示系统研究 学位论文 硕士, 上海微系统与信息技术研究所: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所, 2008 梁爽 收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2012/03/06 相变存储器  自动化测试  疲劳特性  VC++6.0  LabVIEW