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微电子研究所 [2]
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外文期刊 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
2016 [1]
2008 [1]
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Study of total ionizing dose induced read bit errors in magneto-resistive
期刊论文
Microelectronics Reliability, 2016
作者:
Hu HY(呼红阳)
;
Zhang HH(张浩浩)
;
Li J(李金)
;
Ji LL(季兰龙)
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提交时间:2017/05/11
Resistance switching of Au-implanted-ZrO2 film for nonvolatile memory application
外文期刊
2008
作者:
Liu, Q
;
Guan, WH
;
Long, SB
;
Liu, M
;
Zhang, S
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提交时间:2010/11/26
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