中国开放科研知识云: 检索

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条

帮助

已选(0)清除条数/页：排序方式：
	Spectroscopic ellipsometry chraracterization of the interfacial roughness in simox wafers 期刊论文 THIN SOLID FILMS, 2004, 卷号: 459, 期号: 1-2, 页码: 63-66 Li,WJ; Song,ZR; Tao,K; Cheng,XH; Yang,WW; Yu,YH; Wang,X; Zou,SC; Shen,DS 收藏 \| 浏览/下载：11/0 \| 提交时间：2012/03/24 ATOMIC-FORCE MICROSCOPY SURFACES
	THE 2-DIMENSIONAL PAIR CORRELATION-FUNCTION FOR THE SI(001) SURFACE - COMPUTER-SIMULATION RESULTS 期刊论文 JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, 1994, 卷号: 6, 期号: 6, 页码: 1083-1088 JIA,ZM; YANG,GQ; CHENG,ZN; LIU,XH; Zou,SC 收藏 \| 浏览/下载：13/0 \| 提交时间：2012/03/25 SILICON MODEL SI(100)-(2X1) FLUIDS ENERGY

在结果中检索