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上海微系统与信息技术... [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2010 [1]
学科主题
Applied; P... [1]
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Condensed ... [1]
Multidisci... [1]
Multidisci... [1]
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Three-Dimensional Carrier Profiling of Individual Si Nanowires by Scanning Spreading Resistance Microscopy
期刊论文
ADVANCED MATERIALS, 2010, 卷号: 22, 期号: 36, 页码: 4020-4024
Ou, X
;
Das Kanungo, P
;
Kogler, R
;
Werner, P
;
Gosele, U
;
Skorupa, W
;
Wang, X
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浏览/下载：61/0
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提交时间：2011/12/17
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