QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：1998     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy ion induced single event effects in semiconductor device 会议论文 作者:  Liu, J;  Ma, F;  Hou, MD;  Sun, YM;  Quan, JM 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2018/08/20 single event effect  heavy ion bombardment  large scale integrate circuit   Heavy ion induced single event effects in semiconductor device 会议论文 作者:  Liu, J;  Ma, F;  Hou, MD;  Sun, YM;  Quan, JM 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2018/08/20 single event effect  heavy ion bombardment  large scale integrate circuit   Heavy ion induced single event effects in semiconductor device 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 1998, 卷号: 135, 期号: 1-4, 页码: 239-243 作者:  Zhong, YJ;  Liu, J;  Ma, F;  Hou, MD;  Sun, YM 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2011/08/26 single event effect  heavy ion bombardment  large scale integrate circuit